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sanko三高膜厚计的使用与维修

膜厚计仪器大多存在以下问题：1)液晶屏损坏；2)主机和探头接触不良造成无数据显示；3)主机无显示;4)探头连接后无数据出现，尽管显示f或者nf标志。

由于返厂维修周期长，价格昂贵，zui重要的是耽误了客户的正常的工作。

造成问题出现的原因很多，但无外乎：

1)主板损坏；

2)软件损坏；

3)探头线插座损坏造成接触不良；

4)探头磨损严重，无维修价值。

泛泛的问题就是以上几个故障，也有可能几个问题一起出现。

膜厚仪也叫x射线测厚仪，它的原理是物质经x射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光x射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。   对于如何选择膜厚仪，首先取决你企业自身的能力和经营要求，德国宏德x-射线荧光镀层测厚仪此款产品，专为五金电镀行业而设计的仪器，物超所值，价格优势,无须标准片建档校正，很多同类机器均无此功能。（此款仪器由于其*的软件功能，在利用已采集纯元素建立测量程式，无标准片的情况下亦可进行测量，并且测量表面镀层的准确度为正负5%）；维修成本低廉，由于各电子部件充分细分化，将每个电子部件成本降至zui低；x-射线管约为三万元，一般线路板几千元。其它配件也*业其他厂商优惠。

可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)，也可测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。
本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。

*测量原理：磁感应法和涡流法（fe/nfe两用探头）
*测量范围：1～1250μm
*测量准确度：±[(1～3)%h 1] μm（全量程校准）
*分辨率：1μm
*工件要求：zui小曲率半径（mm）凸5  /  凹 25 ；
  接触zui小面积直径10mm×10mm；
  基体zui小厚度fe:0.2 mm；nfe:0.05mm
*使用环境：温度0-60摄氏度；湿度 20%-75% ；无磁场环境
*电源：四节1.5伏aaa电池
*外形尺寸：112 ×69×28mm
*重量：82 g(不含电池)
主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池