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日本sanko三高进口sl-200e电磁模拟膜厚仪

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探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度

规格

测量范围

i：0～50μm ii：0～500μm

测量精度

均匀表面上显示值的 ±1 μm 或 ±2%

电源

dc：aa 电池 (1.5v) x 8
ac：100v，50/60hz（使用交流适配器）

工作温度

0 至 40°c（无冷凝）机身尺寸190(宽)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件标准厚度板、ac适配器、肩包探测2极型，磁极直径φ2.5，极距5mm尺寸：10(w)×17(h)×21(d)mm