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hioki日本进口日置 c测试仪 3506-10
hioki日本进口日置 c测试仪 3506-10
模拟测量时间0.6ms(1mhz)的高速测量
提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
khz、1mhz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
根据bin的测定区分容量
测量参数 | c(电容),d(损耗系数tanδ), q (1/tan δ) |
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测量范围 | c:0.001ff~15.0000μf d: 0.00001 ~ 1.99999 q:0.0 ~ 19999.9 |
基本精度 | (代表值)c: ±0.14% rdg. d: ±0.0013 |
测量频率 | 1khz, 1mhz |
测量信号电平 | 500mv, 1v rms |
输出电阻 | 1ω (在1khz 时2.2 μf 以上量程), 20ω(除上述以外的量程) |
显示 | led(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 1.5ms:1mhz, 2.0 ms:1khz |
功能 | bin分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, low-c筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (ext. i/o), rs-232c接口, gp-ib接口 |
电源 | ac 100/120/220/240v ±10%(可选择), 50/60hz, 40va |
体积及重量 | 260w × 100h × 298dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1 |
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